Ansteuerung antriebsintegrierter Sicherheitsfunktionen
6.3 Ansteuerung über Klemmen auf der Control Unit
6.3.5
Bitmustertest
Bitmustertest fehlersicherer Ausgänge
Der Umrichter reagiert normalerweise sofort auf Signaländerungen seiner fehlersicheren
Eingänge. Im folgenden Fall ist das unerwünscht: Einige Steuerungsbaugruppen testen ihre
fehlersicheren Ausgänge mit "Bitmustertests" (Hell-/Dunkeltests), um Fehler durch Kurz- oder
Querschluss zu erkennen. Wenn Sie einen fehlersicheren Eingang des Umrichters mit einem
fehlersicheren Ausgang einer Steuerungsbaugruppe verschalten, reagiert der Umrichter auf
diese Testsignale.
Bild 6-1
Hinweis
Entprellzeit bei unerwünschtem Auslösen der Safety Integrated Functions
Falls die Testpulse zu einem unerwünschten Auslösen der Safety Integrated Functions führen,
können diese Testpulse mit Hilfe des F-DI-Eingangsfilters (p9651) ausgeblendet werden. Dazu
ist in p9651 ein Wert einzutragen, der größer als die Dauer eines Testpulses ist.
Übersicht wichtiger Parameter
• p9651
146
Reaktion des Umrichters auf einen Bitmustertest
SI STO/SBC/SS1 Entprellzeit (Control Unit)
Inbetriebnahmehandbuch, 10/2020, A5E47011139A AB
Safety Integrated