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Komponenten-Test
Komponenten-Test
Gerätebezogene Informationen, welche die Bedienung und die
Messanschlüsse betreffen, sind dem Absatz CT (46) unter „Be-
dienelemente und Readout" zu entnehmen.
Das Oszilloskop verfügt über einen eingebauten Komponenten-
Tester. Der zweipolige Anschluss des zu prüfenden Bauelemen-
tes erfolgt über die dafür vorgesehenen Buchsen. Im Kompo-
nententest-Betrieb sind sowohl die Y-Vorverstärker wie auch der
Zeitbasisgenerator abgeschaltet. Jedoch dürfen Signalspannun-
gen an den auf der Frontplatte befindlichen BNC-Buchsen weiter
anliegen, wenn einzelne nicht in Schaltungen befindliche Baut-
eile (Einzelbauteile) getestet werden. Nur in diesem Fall müssen
die Zuleitungen zu den BNC-Buchsen nicht gelöst werden (siehe
„Tests direkt in der Schaltung"). Außer den INTENS.-, FOCUS-
und X-POS.-Einstellern haben die übrigen Oszilloskop-Einstellun-
gen keinen Einfluss auf diesen Testbetrieb. Für die Verbindung
des Testobjekts mit dem Oszilloskop sind zwei einfache Mess-
schnüre mit 4mm-Bananensteckern erforderlich.
Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle Messan-
schlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netzschutzleiter
verbunden, also auch die Buchsen für den Komponententester.
Für den Test von Einzelbauteilen (nicht in Geräten bzw. Schaltun-
gen befindlich) ist dies ohne Belang, da diese Bauteile nicht mit
dem Netzschutzleiter verbunden sein können.
Sollen Bauteile getestet werden, die sich in Testschaltungen bzw.
Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw. Geräte unter
allen Umständen vorher stromlos gemacht werden. Soweit Netz-
betrieb vorliegt, ist auch der Netzstecker des Testobjektes zu zie-
hen. Damit wird sichergestellt, dass eine Verbindung zwischen
Oszilloskop und Testobjekt über den Schutzleiter vermieden wird.
Sie hätte falsche Testergebnisse zur Folge.
Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet
werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im Oszillo-
skop befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinusspannung,
deren Frequenz 50Hz (±10%) beträgt. Sie speist eine Reihen-
schaltung aus Prüfobjekt und eingebautem Widerstand. Die Sinus-
spannung wird zur Horizontalablenkung und der Spannungsab-
fall am Widerstand zur Vertikalablenkung benutzt.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Widerstand), sind
beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm wird
ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das Prüf-
objekt kurzgeschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Unter-
brechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waagerechte
Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein Maß für den
Wi-derstandswert. Damit lassen sich ohmische Widerstände zwi-
schen 20Ω und 4,7kΩ testen.
Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafo-
wicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom und
Spannung, also auch zwischen den Ablenkspannungen. Das er-
gibt ellipsenförmige Bilder. Lage und Öffnungsweite der Ellipse
sind kennzeichnend für den Scheinwiderstandswert bei einer
Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden im Bereich 0,1µF
bis 1000µF angezeigt.
–
Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine hohe
Impedanz (kleine Kapazität oder große Induktivität).
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–
Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige
Impedanz (große Kapazität oder kleine Induktivität).
–
Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen
Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kennlinien-
knicke beim Übergang vom leitenden in den nichtleitenden
Zustand. Soweit das spannungsmäßig möglich ist, werden
Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei ei-
ner Z-Diode unter 10V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-
Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors
nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen Übergänge B-C,
B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die
einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft wer-
den. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und Sperr-
spannung >10V ist nicht möglich. Das ist im allgemeinen kein
Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abwei-
chungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte
Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit sicher
funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und Wertes.
Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann damit z.B. den
kathodenseitigen Anschluss einer Diode oder Z-Diode mit un-
kenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung eines p-n-p-Transis-
tors vom komplementären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuse-
anschlussfolge B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnell
ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, dass die Anschlussumpolung
eines Halbleiters (Vertauschen der Messkabel) eine Drehung
des Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt der Bildröhre
bewirkt.
Wichtiger noch ist die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über Baut-
eile mit Unterbrechung oder Kurzschluss, die im Service-Betrieb
erfahrungsgemäß am häufigsten benötigt wird. Die übliche Vor-
sicht gegenüber einzelnen MOS-Bauelementen in Bezug auf sta-
Änderungen vorbehalten
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