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AUTOSET
Die Anzeige zeigt den arithmetischen (linearen) Mittelwert. Bei
Gleich- bzw. Mischspannungen (Gleichspannungen mit überla-
gerter Wechselspannung) wird die Gleichspannung bzw. der
Gleichspannungsanteil angezeigt. Im Falle von Rechteckspannun-
gen geht das Tastverhältnis in die Mittelwertanzeige ein.
Komponenten-Test
Gerätebezogene Informationen, welche die Bedienung und die
Messanschlüsse betreffen, sind dem Absatz CT [42] unter
„Bedienelemente und Readout" zu entnehmen.
Das Oszilloskop verfügt über einen eingebauten Komponenten-
Tester. Der zweipolige Anschluss des zu prüfenden Bauelemen-
tes erfolgt über die dafür vorgesehenen Buchsen. Im Komponen-
tentest-Betrieb sind sowohl die Y-Vorverstärker wie auch der
Zeitbasisgenerator abgeschaltet. Jedoch dürfen Signalspannun-
gen an den auf der Frontplatte befindlichen BNC-Buchsen weiter
anliegen, wenn einzelne nicht in Schaltungen befindliche Baut-
eile (Einzelbauteile) getestet werden. Nur in diesem Fall müssen
die Zuleitungen zu den BNC-Buchsen nicht gelöst werden (siehe
„Tests direkt in der Schaltung"). Außer den INTENS.-, FOCUS-
und X-POS.-Einstellern haben die übrigen Oszilloskop-Einstel-
lungen keinen Einfluss auf diesen Testbetrieb. Für die Verbin-
dung des Testobjekts mit dem Oszilloskop sind zwei einfache
Messschnüre mit 4mm-Bananensteckern erforderlich.
Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle Messan-
schlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netzschutzleiter
verbunden, also auch die Buchsen für den Komponententester.
Für den Test von Einzelbauteilen (nicht in Geräten bzw. Schaltun-
gen befindlich) ist dies ohne Belang, da diese Bauteile nicht mit
dem Netzschutzleiter verbunden sein können.
Sollen Bauteile getestet werden, die sich in Testschaltungen
bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw. Geräte
unter allen Umständen vorher stromlos gemacht werden. Soweit
Netzbetrieb vorliegt, ist auch der Netzstecker des Testobjektes
zu ziehen. Damit wird sichergestellt, dass eine Verbindung zwi-
schen Oszilloskop und Testobjekt über den Schutzleiter vermie-
den wird. Sie hätte falsche Testergebnisse zur Folge.
Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet
werden!
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im Oszillo-
skop befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinusspannung,
deren Frequenz 50 Hz (±10%) beträgt. Sie speist eine Reihen-
schaltung aus Prüfobjekt und eingebautem Widerstand. Die
Sinusspannung wird zur Horizontalablenkung und der Spannungs-
abfall am Widerstand zur Vertikalablenkung benutzt.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Widerstand), sind
beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm
wird ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das
Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Un-
terbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waagerechte
Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein Maß für den
Widerstandswert. Damit lassen sich ohmische Widerstände
zwischen 20Ω und 4,7kΩ testen. Kondensatoren und Induktivitä-
ten (Spulen, Drosseln, Trafowicklungen) bewirken eine Phasen-
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differenz zwischen Strom und Spannung, also auch zwischen
den Ablenkspannungen. Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage
und Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend für den
Scheinwiderstandswert bei einer Frequenz von 50Hz. Kondensa-
toren werden im Bereich 0,1µF bis 1000µF angezeigt.
• Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine hohe
Impedanz (kleine Kapazität oder große Induktivität).
• Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige Impe-
danz (große Kapazität oder kleine Induktivität).
• Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen Verlust-
widerstand in Reihe mit dem Blindwiderstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kennlinien-
knicke beim Übergang vom leitenden in den nichtleitenden
Zustand. Soweit das spannungsmäßig möglich ist, werden
Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei ei-
ner Z-Diode unter 10V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-
Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors
nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen Übergänge B-C,
B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die
einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft wer-
den. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und Sperr-
spannung >10V ist nicht möglich. Das ist im allgemeinen kein
Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abwei-
chungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte
Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit sicher
funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und Wertes.
Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann damit z.B. den
kathodenseitigen Anschluss einer Diode oder Z-Diode mit un-
kenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung eines p-n-p-Transis-
tors vom komplementären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuse-
anschlussfolge B-C-E eines unbekannten Transistortyps schnell
ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, dass die Anschlussumpolung
eines Halbleiters (Vertauschen der Messkabel) eine Drehung des
Testbilds um 180° um den Rastermittelpunkt der Bildröhre be-
wirkt.
Änderungen vorbehalten
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