Siemens SINUMERIK ONE Programmierhandbuch Seite 54

Beschreibung
3.9 Messstrategie beim Werkstückmessen mit Werkzeugkorrektur
Tabelle 3-1 Beispiel für Mittelwertbildung und Korrektur
Untergrenze = 40 µm
(S_TZL = 0.04)
i Di Mi
k = 3
[µm] [µm]
1. Mes‐ 30 10
sung
2. Mes‐ 50 23,3
sung
3. Mes‐ 60 35,5
sung
4. Mes‐ 20 30,3
sung
5. Mes‐ 40 32,6
sung
6. Mes‐ 50 38,4
sung
①
7. Mes‐ 50 42,3
sung
8. Mes‐ 30 10
sung
9. Mes‐ 70 30
sung
②
10. Mes‐ 70 43,3
sung
Bei den Messungen mit den markierten Feldern wird mit dem Mittelwert die Werkzeugkorrektur
ausgeführt (berechneter Mittelwert > S_TZL):
• Bei k = 3 in der 7. und 10. Messung (
• Bei k = 2 in der 3., 7. und 9. Messung (
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Verlauf der Mittelwerte bei zwei verschiedenen Wichtungsfaktoren
Mi
k = 2
[µm]
15
32,5
③
46,2
10
25
37,5
0
④
43,75
15
⑤
42,5
35
1 2 3 4 5 6 7 8
① ②
und ),
③ ④ ⑤
, und
Programmierhandbuch, 07/2021, A5E48061510A AD
9 10
).
Messzyklen