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Lenovo ThinkSystem DG5000 7DE4 Installations- Und Wartungshandbuch Seite 99

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Speichertestbereich konfigurieren
Geben Sie mithilfe des Konfigurationsbereichs im Hauptspeichertest die Start- und Endadressen für die
Speichertests an.
• Geben Sie den gewünschten Hauptspeicher-Adressbereich die Felder „Startadresse" und „Endadresse"
im Hexadezimalformat ein.
• Verwenden Sie die Taste „Tab", um mit dem Cursor zwischen der Hauptspeicher-Adresseingabe und der
Seite „Systemsteuerung" zu wechseln („OK" oder „Abbrechen").
• Wählen Sie in der Systemsteuerung „OK" aus und drücken Sie die Eingabetaste.
Hauptspeichertestauswahl und Loop-Anzahl
Auf der Seite „Test memory" (Hauptspeicher testen) werden die verfügbaren Hauptspeichertests angezeigt:
• Memory Pattern Test (Hauptspeicher-Mustertest) – prüft den Systemspeicher mit einem vorher
festgelegten Muster
• Memory Random Test (Hauptspeicher-Zufallstest) – prüft den Systemspeicher mit zufällig generierten
Mustern
.
Kapitel 5
Diagnoseprogramme auf Systemebene
93

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