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MicroSpotMonitor MSM+
Abb. 12.1:
Anzeige von Messergebnissen in den Werkzeugen der angepassten Werkbank (Beispiel)
12.4.8
Eine Kaustik oder Ebene nachmessen (optional)
Sind bei einer Kaustik‑/Ebenenmessung Fehler oder Grenzwertüberschreitungen aufgetreten oder soll eine
Messung aus einem anderen Grund wiederholt werden, so ist dies über die Nachmessen‑Funktion im Kon‑
textmenü des Projektbaums möglich. Beachten Sie, dass diese Funktion im Kontextmenü nur dann ange‑
zeigt wird, wenn ein Gerät angeschlossen ist.
Beim Nachmessen einer Kaustik werden die vorhandenen Messdaten nicht überschrieben, sondern es wird
eine zusätzliche Kaustik‑Messung im Projektbaum angelegt. Beim Nachmessen einer Ebene werden Sie
zuvor gefragt, ob Sie die im Projektbaum ausgewählte Ebene überschreiben möchten.
Eine detaillierte Beschreibung des Projektbaums entnehmen Sie bitte der gesonderten Betriebsanleitung der
LaserDiagnosticsSoftware LDS.
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Revision 01 DE – 03/2021
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