Werbung
Rasterkraftmikroskop
(a)
Abbildung 72: Elektronenmikroskop-Aufnahmen eines BudgetSensors-Cantilevers.
(a) Übersichtsbild, (b) Seitenansicht der Spitze, (c) Frontansicht.
Kit verwendeten Contact-AlG Cantilever weichen leicht von den abgebildeten Aufnahmen ab
Der Cantilever muss einige Anforderungen erfüllen. Eine kleine Federkonstante ermöglicht
es, geringfügige Kräfte zu messen. Eine große Resonanzfrequenz verringert den Einfluss
von mechanischen Schwingungen auf den Cantilever. Dies macht sowohl eine geringe
Masse als auch eine kleine Größe des Cantilevers notwendig.
Bei der Annäherung der Probe an die Spitze treten Wechselwirkungen auf, die zu einer
Verbiegung der Feder führen. Für diese Kraft ergibt sich nach dem Hooke'schen Gesetz
mit der Auslenkung
Letztere ist im Datenblatt der mitgelieferten Cantilever mit 0,2
Cantilevers.
19
Nimmt man eine Auslenkung von 1 μ
An diesem Beispiel wird deutlich, dass die auftretenden Kräfte sehr klein sind.
16
Zur Verfügung gestellt von http://www.budgetsensors.com/
17
http://www.budgetsensors.com/contact_mode_afm_probes.html
18
Meyer, E.: Atomic Force Microscopy. In: Progress in Surface Science 41 (1992), S. 3-49
19
Cappella, B. ; Dietler, G.: Force-distance curves by atomic force microscopy. In: Surface Science
Reports 34 (1999), S. 1-104
Seite 84
(c)
und sind im Datenblatt angegeben.
aus der Gleichgewichtslage und der Federkonstanten
| |
⋅
an, so beläuft sich die Kraft auf
|
⋅ |
0,2
(b)
16
Die Abmessungen der im
17
18
MTN008707-D03
des
angegeben.
Werbung
