Komponenten-Test - Hameg HM1507-3 Bedienungsanleitung

schreiben die vorherigen Einstellungen. Falls unkalibrierte
Bedingungen vorlagen, wird durch AUTO SET elektrisch au-
tomatisch in die kalibrierte Einstellung geschaltet. Anschlie-
ßend kann die Bedienung wieder manuell erfolgen.
Die Ablenkkoeffizienten 1 mV/cm und 2mV/cm werden, we-
gen der reduzierten Bandbreite in diesen Bereichen, im AUTO
SET-Betrieb nicht gewählt.
In solchen Fällen empfiehlt es sich, auf Normaltriggerung
umzuschalten und den Triggerpunkt ca. 5mm über oder un-
ter die Strahllinie zu stellen. Leuchtet dann dieTriggeranzeige-
LED, liegt ein derartiges Signal an. Um das Signal sichtbar zu
machen, muß zuerst ein kleinerer Zeit-Ablenkkoeffizient und
danach ein größerer Y-Ablenkkoeffizient gewählt werden.
Dabei kann sich allerdings die Strahlhelligkeit so stark verrin-
gern, daß der Puls nicht sichtbar wird.
Im Gegensatz zum Analog-Betrieb erfolgt keine Verringerung
der Strahlintensität. Es muß aber beachtet werden, daß,
selbst bei höchster Abtastrateneinstellung (200MSls = 5ns
Abtastintervall), pulsförmige Signale eine Pulsbreite von 20ns
nicht unterschreiten dürfen. Andernfalls kann das Signal mit
zu niedriger Amplitude dargestellt werden.
Gerätebezogene Informationen, welche die Bedienung und
die Meßanschlüsse betreffen, sind dem Absatz CT (461 un-
ter "Bedienelemente und Readout" zu entnehmen.
Das Oszilloskop verfügt über einen eingebauten Komponen-
ten-Tester. Der zweipolige Anschluß des zu prüfenden Bau-
elementes erfolgt über die dafür vorgesehenen Buchsen. Im
Komponententest-Betrieb sind sowohl die Y-Vorverstärker wie
auch der Zeitbasisgenerator abgeschaltet. Jedoch dürfen
Signalspannungen an den auf der Frontplatte befindlichen
BNC-Buchsen weiter anliegen, wenn einzelne nicht in Schal-
tungen befindliche Bauteile (Einzelbauteile) getestet werden.
Nur in diesem Fall müssen die Zuleitungen zu den BNC-Buch-
sen nicht gelöst werden (siehe "Tests direkt in der Schal-
tung"). Außer den INTENS.-, FOCUS- und X-POS.-Einstel-
lern haben die übrigen Oszilloskop-Einstellungen keinen Ein-
fluß auf diesen Testbetrieb. Für die Verbindung des Testob-
jekts mit dem Oszilloskop sind zwei einfache Meßschnüre
mit 4mm-Bananensteckern erforderlich.
Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle Meßan-
schlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netzschutzleiter
verbunden, also auch die Buchsen für den Komponententester.
Für den Test von Einzelbauteilen (nicht in Geräten bzw. Schal-
tungen befindlich) ist dies ohne Belang, da diese Bauteile nicht
mit dem Netzschutzleiter verbunden sein können.
Sollen Bauteile getestet werden, die sich in Testschaltungen
bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw. Gerä-
te unter allen Umständen vorher stromlos gemacht werden.
Soweit Netzbetrieb vorliegt, ist auch der Netzstecker des Test-
bindung zwischen Oszilloskop und Testobjekt über den
Schutzleiter vermieden wird. Sie hätte falsche Testergebnisse
zur Folge.
Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im
Oszilloskop befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinus-
spannung, deren Frequenz 50Hz (*IO%) beträgt. Sie speist
eine Reihenschaltung aus Prüfobjekt und eingebautem Wi-
derstand. Die Sinusspannung wird zur Horizontalablenkung
und der Spannungsabfall am Widerstand zur Vertikalablenkung
benutzt.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Widerstand),
sind beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bild-
schirm wird ein mehr oder weniger schräger Strich darge-
stellt. Ist das Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich
senkrecht. Bei Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich
eine waagerechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist
ein Maß für den Widerstandswert. Damit lassen sich
Ohmische Widerstände zwischen 20R und 4,7kR testen.
Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafo-
Wicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom
und Spannung, also auch zwischen den Ablenkspannungen.
Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage und Offnungsweite
der Ellipse sind kennzeichnend für den Scheinwiderstands-
wert bei einer Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden
im Bereich 0.1 pF bis 1 OOOuF angezeigt.
. Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine hohe
Impedanz (kleine Kapazität oder große Induktivität).
. Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige
Impedanz (große Kapazität oder kleine Induktivität).
Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen
l
Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen
Kennlinienknicke beim Ubergang vom leitenden in den nicht-
leitenden Zustand. Soweit das spannungsmäßig möglich ist,
werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt
(z.B. bei einer Z-Diode unter 1 OV). Es handelt sich immer um
eine Zweipol-Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung ei-
nes Transistors nicht getestet werden, wohl aber die einzel-
nen Übergänge B-C, B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige
mA beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter
zerstörungsfrei geprüft werden. Eine Bestimmung von Halb-
leiter-Durchbruch- und Sperrspannung ~1 OV ist nicht mög-
lich. Das ist im allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in
der Schaltung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die
eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit si-
cher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und
Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann da-
mit z.B. den kathodenseitigen Anschluß einer Diode oder Z-
Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung
eines p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-Typ oder
die richtige Gehäuseanschlußfolge B-C-E eines unbekannten
Transistortyps schnell ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, daß die Anschlußumpolung
eines Halbleiters (Vertauschen der Meßkabel) eine Drehung
des Testbilds um 180" um den Rastermittelpunkt der Bild-
röhre bewirkt.