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11 Komponententester
11.1 Allgemeines
Die Oszilloskope HMO72x...202x verfügen über einen eingebau-
ten Komponententester, der durch Drücken der XY/CT-Taste
eingeschaltet werden kann. In dem sich öffnenden Menü kann
mit der obersten Softmenütaste der Komponententester akti-
viert werden.
Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle
Messanschlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem
Netzschutzleiter verbunden, also auch die COMP.
TESTER-Buchsen. Für den Test von Einzelbauteilen (nicht
in Geräten bzw. Schaltungen befindlich) ist dies ohne
Belang, da diese Bauteile nicht mit dem Netzschutzleiter
verbunden sein können.
Der zweipolige Anschluss des zu prüfenden Bauelementes
erfolgt über die zugeordneten Buchsen (unter dem Bild schirm).
Es dürfen Signalspannungen an den Front-BNC-Buchsen der
Kanäle weiter anliegen, wenn einzelne nicht in Schal t ungen
befindliche Bauteile (Einzelbauteile) getestet werden. Nur in
diesem Fall müssen die Zuleitungen zu den BNC-Buchsen nicht
Sollen Bauteile getestet werden, die sich in Testschal-
tungen bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen
bzw. Geräte unter allen Umständen vorher stromlos
gemacht werden. Soweit Netzbetrieb vorliegt ist auch
der Netzstecker des Testobjektes zu ziehen. Damit wird
sichergestellt, dass eine Verbindung zwischen Oszilloskop
und Testobjekt über den Schutzleiter vermieden wird. Sie
hätte falsche Testergebnisse zur Folge.
gelöst werden (siehe im folgenden Absatz „Tests direkt in der
Schaltung"). Für die Verbindung des Testobjekts mit den
Komponenten-Tester-Buchsen sind zwei einfache Messkabel
mit 4mm-Bananensteckern erforderlich. Nach beendetem Test
kann durch Drücken der untersten Softmenütaste der CT Modus
verlassen werden und der Os z il l os k op-Betrieb fortgesetzt
werden.
Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet
werden!
Abb. 11.1: Komponententester bei Kurzschluss
K o m p o n e n t e n t e s t e r
Das Testprinzip beruht auf einem integrierten Sinusgenerator
welcher ein Signal mit max. 10 V Amplitude und einer Frequenz
von 50 Hz oder 200 Hz (±10%) bereitstellt. Sie speist eine Rei-
henschaltung aus Prüfobjekt und eingebautem Widerstand.
Ist das Prüfobjekt eine reelle Größe (z.B. ein Widerstand), sind
beide Spannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm wird
ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das
Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei
Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waage-
rechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein Maß für
den Widerstandswert. Damit lassen sich ohmsche Widerstände
zwischen Ω und kΩ testen.
Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafo-
wicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom
und Spannung. Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage und
Öffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend für den Schein-
widerstandswert bei einer Fre q uenz von 50 Hz (bzw. 200 Hz).
Kondensatoren werden im Bereich µF bis mF angezeigt.
–
Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet hohe
Impedanz (kleine Kapazität oder große Induk ti vität).
–
Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige
Impedanz (große Kapazität oder kleine Induk tivität).
–
Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ großen
Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blind widerstand.
Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kenn-
linienknicke beim Übergang vom leitenden in den nichtleitenden
Zustand. Soweit das spannungsmäßig möglich ist, werden Vor-
wärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei einer
Z-Diode unter ca. 9 V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-
Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors
nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen Übergänge B-C,
B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die
einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft
werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und
Sperrspannung > ca. 9 V ist nicht möglich. Das ist im Allgemei-
nen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso
grobe Abweichungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das
fehlerhafte Bauelement geben. Recht genaue Ergebnisse erhält
man beim Vergleich mit sicher funktionsfähigen Bauelementen
des gleichen Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halb-
leiter. Man kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschluss
einer Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die
Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komple m en t ären
n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschluss f olge B-C-E eines
unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.
Zu beachten ist hier der Hinweis, dass die Anschlussumpolung
eines Halbleiters (Vertauschen von COMP. TESTER-Buchse mit
Masse-Buchse) eine 0 Drehung des Testbilds um 180° um den
Rastermittelpunkt des Bildschirms bewirkt. Wichtiger noch ist
die einfache Gut-/Schlecht-Aussage über Bauteile mit Unter-
brechung oder Kurzschluss, die im Service-Betrieb erfahrungs-
gemäß am häufigsten benötigt wird.
Bei einzelnen MOS-Bauelementen muss in Bezug auf sta-
tische Aufladung oder Reibungselektrizität entsprechend
sorgsam gearbeitet werden.
11.2 Tests direkt in der Schaltung
Sie sind in vielen Fällen möglich, aber nicht so eindeutig.
Durch Parallelschaltung reeller und/oder komplexer Grö-
ßen – besonders wenn diese bei einer Frequenz von 50 Hz/
200 Hz relativ niederohmig sind – ergeben sich meistens gro-
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