Inhaltsverzeichnis
Werbung
Delay-Anzeige
Die Betriebsarten der Ablenkverzogerung werden mit der
links vom
DELAY-Hebelschalter angeordneten LED ange-
zeigt. Schaltet man auf SEARCH, beginnt die Leuchtdiode
zu blinken. Dies soll ein besonderer
Hinweis auf den
nichtnormierten Zustand sein. Die Stellungen DELAY und
DEL. TRIG. werden durch stetiges Leuchten angezeidgt.
Steht bei Normalbetrieb
ohne Ablenkverzogerung
der
DELAY-Hebelschalter nicht auf OFF, konnen Fehleinwir-
kungen, wie z.B. Strahlverdunklung oder partielle Ausblen-
dung, entstehen. Daher ist die Anzeige dieser Leuchtdiode
besonders zu beachten.
Komponenten-Test
Der HM604 hat einen eingebauten Komponenten-Tester,
der durch
Drucken
der COMPONENT
TESTER-Iaste
sofort betriebsbereit ist. Der zweipolige Anschlul& des zu
prufenden Bauelementes erfolgt uber die Isolierobuchse
im Component-Tester-Feld (rechts unter dem Bildschirm)
und uber eine der Masse-Buchsen im Y-Feld. Bel gedruck-
ter Component-Tester-Taste
sind sowohl
die Y-Vor-
verstarker wie auch der Zeitbasisgenerator abgeschaltet.
Jedoch durfen Signalspannungen an den drei Front-BNC-
Buchsen
weiter anliegen.
Deren Zuleitungen
mussen
also nicht gelost werden (siehe aber unten ,, Tests direkt
in der Schaltung"). AufSer den INTENS.-, FOCUS- und X-
POS.-Kontrollen
haben die ubrigen Oszilloskop-Einstel-
lungen keinen EinflufS auf den Testbetrieb. Fur die Verbin-
dung des Testobjekts
mit den CT-Buchsen
sind zwei
einfache Mefgschnure mit 4mm-Bananensteckern erfor-
derlich. Nach beendetem Test kann durch Auslosen der
COMPONENT
TESTER-Ilaste
der Oszilloskop-Betrieb
ubergangslos fortgesetzt werden.
Entsprechend der Schutzklasse des HM604 und der
Schutzklasse eventuell uber MeBkabel angeschlosse-
ner anderer Netzgerate ist es moglich, da
die mit
Massezeichen
versehene
Buchse
mit dem
Netz-
schutzleiter verbunden, also geerdet ist. lm allgemei-
nen
ist das fur den
Test einzelner Bauteile ohne
Belang.
Bei Tests in der Schaltung muB letztere unter allen
Umstanden
vorher stromlos gemacht werden.
Bei
schutzgeerdeter NetzanschluB-Schaltung ist es dazu
erforderlich, den Netzstecker der zu testenden Schal-
tung zu ziehen, damit auch deren Schutzerdverbin-
dung
aufgetrennt ist. Eine doppelte Schutzleiterverbin-
dung wurde zu falschen Testergebnissen fuhren.
Zum Schutz des Komponententesters und des Oszillo-
skops Ist in Reihe mit der Component Tester-Buchse eine
Feinsicherung geschaltet. Bei Fehlbedienung, z.B. zu pru-
ftendes Gerat nicht vom Netz getrennt, schmilzt sie durch.
sie darf nur durch eine Sicherung gleichen Typs ersetzt
werden. Dazu muls das Oszilloskop geoffnet sein (siehe
Service-Anleitung S1, ,,Offnen des Gerates"). Die Siche-
rung befindet sich auf der Unterseite des Gerates.
G-Sicherungseinsatz: Grose 5x20mm,
250V~; C nach
IEC 127, BI.ll; DIN 41661. Abschaltung: flink (F), 50mA.
M16 604-2
Nur entladene Kondensatoren durfen getestet werden!
Das Testprinzip ist von bestechender
Einfachheit. Der
Netztrafo im HM604 liefert eine netzfrequente Sinusspan-
nung, die die Reihenschaltung aus Prufobjekt und einem
eingebauten Widerstand speist. Die Sinusspannung wird
zur Horizontalablenkung
und der Spannungsabfall
am
Widerstand zur Vertikalablenkung benutzt.
Ist das Prufobjekt eine reelle GroBe (z.B. ein Wider-
stand), sind beide Ablenkspannungen phasengleich.
Auf dem
Bildschirm
wird ein mehr
oder weniger
schrager Strich dargestellt. Ist das Prufobjekt kurz-
geschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Unterbre-
chung oder ohne Prufobjekt zeigt sich eine waage-
rechte Linie. Die Schragstellung des Striches ist ein
MaB fur den Widerstandswert. Damit lassen sich ohmische
Widerstande zwischen 20 Q und 4,7k Q testen.
Kondensatoren
und Induktivitaten
(Spulen,
Drosseln,
Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen
Strom
und Spannung,
also auch zwischen
den Ablenk-
spannungen. Das ergibt elliosenformige Bilder. Lage und
Offnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend fur den
Scheinwiderstandswert bei Netzfrequenz. Kondensato-
ren werden im Bereich 0,7uF
bis 1000pF angezeigt.
Eine Ellipse mit horizontaler Langsachse bedeutet
eine hohe Impedanz
(kleine Kapazitat oder groBe
Induktivitat).
Eine Ellipse mit vertikaler Langsachse bedeutet nied-
rige Impedanz
(groBe Kapazitat oder kleine Induk-
tivitat).
Eine Ellipse in Schraglage bedeutet einen relativ gro-
Ben Verlustwiderstand in Rethe mit dem Blindwider-
stand.
Bei Halbleiternerkennt man die spannungsabhangigen
Kennlinienknicke beim Ubergang vom leitenden in den
nichtleitenden
Zustand.
Soweit
das spannungsmasig
moglich ist, werden Vorwarts- und Ruckwarts-Charak-
teristik dargestellt (z.B. bet einer Z-Diode unter 12V). Es
handelt sich immer um eine Zweipol-Prufung; deshalb
kann z.B. die Verstarkung eines Transistors nicht getestet
werden, wohl aber die einzelnen Ubergange B-C, B-E, C-E.
Da die am Testobjekt anliegende Spannung nur einige
Volt betragt,
konnen
die einzelnen
Zonen
fast aller
Halbleiter zerstorungsfrei gepruft werden. Anderer-
seits ist deshalb ein Test der Durchbruch- oder Sperr-
Spannung an Halbleitern fur hohe Speisespannung ausge-
schlossen. Das Ist im allgemeinen kein Nachteil, da im
Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abweichungen
auftreten, die eindeutige Hinwelse aut das fehlerhafte
Bauelement geben.
Recht genaue Ergebnisse erhalt man beim Vergleich mit
sicher funktionsfahigen Bauelementendes gleichen Typs
und Wertes. Dies gilt insbesondere auch fur Halbleiter. Man
kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschlufg einer Diode
oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung,
die Unter-
scheidung eines p-n-p-Transistors vom komplementaren n-
p-n-Typ oder die richtige Gehauseanschlukfolge B-C-E el-
nes unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.
Anderungen vorbehalten
Werbung
Inhaltsverzeichnis
