FLIR E series Schnelleinstieg Seite 66

JA-JP 日本語
• 光沢のない表面を持つ領域など、放射
率の高い場所を選択し、測定を実施し
てください。
• 反射の影響で、放射率の低い空のオブ
ジェクトが温かい (または冷たい) オブ
ジェクトとしてカメラに表示される場
合があります。
• 検査対象に直射日光が当たらないよう
にしてください。
• 建物の構造などのさまざまな種類の欠
陥により、同様の熱的パターンが生成
される場合があります。
• 熱画像を適切に解析するには、その用
途に関する専門知識が必要です。
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Publ. no. T559524, rev. 016