5.2.4.2 Stauberfassung an der Weißplatte
Das System verfügt über einen Lüfter innerhalb der Reader-Einheit, um im ADF-Durchlauf-
modus eine Überhitzung der Xenonlampe zu verhindern. Dadurch kann jedoch Staub in die
Reader-Einheit eindringen und sich an der Weißplatte ansammeln. Dies zeigt sich in Form
von dünnen Linien in ausgegebenen Bildern.
1. Timing
(1) Vor einem Job
(a) Stauberfassung an der Weißplatte
(b) Staubkorrektur an der Weißplatte
(2) Nach einem Job
(a) Stauberfassung an der Weißplatte
(b)Staubkorrektur
Starttaste Ein
2. Details der Kontrolle
(1) Stauberfassung auf der Weißplatte
Das System vergleicht die Daten des reflektierten Lichts der Weißplatte während der
Schattenkorrektur und bewegt den Abtastpunkt zur Prüfung von Staub auf der Weißplatte,
um die Koordinaten sowie die Breite des Bereichs zu ermitteln.
1. Scan
Stauberfassung
Abb. 5 - 2 - 14
2. Scan
Stauberfassung
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