Übersicht Über Die Fehlerbehandlung - Sun Microsystems Sun Fire V445 Administrationshandbuch

Übersicht über die Fehlerbehandlung
Die Fehlerbehandlung während des Einschaltvorgangs kann in drei Kategorien
eingeteilt werden:
Wenn die POST- oder OpenBoot Diagnostics-Tests keine Fehler entdecken,
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versucht das System zu starten, sofern auto-boot? auf true gesetzt ist.
Wenn die POST- oder OpenBoot Diagnostics-Tests nur nicht schwerwiegende
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Fehler finden, versucht das System zu starten, sofern auto-boot? auf true und
auto-boot-on-error? auf true gesetzt ist. Zu den nicht schwerwiegenden
Fehlern gehören die folgenden:
Ausfall des SAS-Subsystems. In diesem Fall ist ein funktionierender
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alternativer Pfad zur Boot-Platte erforderlich. Weitere Informationen zu diesem
Thema finden Sie unter
Ausfall einer Ethernet-Schnittstelle
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Ausfall einer USB-Schnittstelle
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Ausfall einer seriellen Schnittstelle
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Ausfall einer PCI-Karte
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Ausfall eines Speichermoduls
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Wenn beispielsweise ein DIMM-Modul ausgefallen ist, dekonfiguriert die
Firmware die gesamte logische Bank des betreffenden Moduls. Dem System
muss in diesem Fall eine andere, nicht ausgefallene logische Bank zur
Verfügung stehen, damit es einen eingeschränkten Start versuchen kann.
Siehe „Übersicht über CPU-/Speichermodule" auf Seite
Hinweis – Wenn die POST- oder OpenBoot Diagnostics-Tests einen nicht
schwerwiegenden Fehler des normalen Boot-Geräts feststellen, dekonfiguriert die
OpenBoot-Firmware automatisch das ausgefallene Gerät und versucht, das System
über das nächste Boot-Gerät zu starten, wie mit der Konfigurationsvariablen boot-
device festgelegt.
Wenn die POST- oder OpenBoot Diagnostics-Tests einen schwerwiegenden Fehler
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feststellen, wird das System nicht gestartet, und zwar unabhängig von den
Einstellungen für auto-boot? und auto-boot-on-error?. Zu den
schwerwiegenden, irreparablen Fehlern gehören die folgenden:
Ausfall einer CPU
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Ausfall aller logischen Speicherbänke
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Ausfall der Flash-RAM-CRC (Cyclical Redundancy Check, zyklische
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Redundanzprüfung)
Ausfall kritischer FRU-PROM-Konfigurationsdaten (Field-Replaceable Unit)
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Ausfall einer kritischen ASIC (Application Specific Integrated Circuit,
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anwendungsspezifische integrierte Schaltung)
Weitere Informationen zur Behandlung schwerwiegender Fehler finden Sie in
Kapitel 9.
„Übersicht über Multipathing-Software" auf Seite 124.
78.
Kapitel 8 Diagnose 223