Tempi di formalizzazione tipica della misura in base agli elementi testati (U
Questi valori includono le influenze dovute al carico della componente capacitiva, al sistema di
gamma automatica e alla regolazione della tensione di test.
Tensione di prova
500 V
1000 V
2500 V
5000 V
Tempo di scarica tipico di un elemento capacitivo per raggiungere 25 V
Tensione iniziale
Tempo di scarica ( C in µF)
Curva di evoluzione tipiche delle tensioni di prova in funzione del carico
V
600
500
400
300
200
100
0
0,01
V
1200
1000
800
600
400
200
0
0,1
Carico
Non capacitico
(misura non lineare)
1 MΩ
100 GΩ
1 MΩ
100 GΩ
3 MΩ
100 GΩ
5 MΩ
100 GΩ
500 V
1000 V
C x 3 s
C x 4 s
Portata 500 V
0,1
Portata 1000 V
122
= 0,03 U
dist
Con capacità di 1µF
(misura lineare)
3 s
4 s
8 s
40 s
3 s
4 s
8 s
80 s
3 s
4 s
8 s
90 s
4 s
16 s
8 s
120 s
DC
2500 V
C x 4 s
1
MW
1
MW
)
n
5000 V
C x 7 s