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Diodentest
Funktion
Auflösung
10mV
Durchgangstest
Funktion
Frequenz
Bereich
Auflösung
4.000kHz
0.001kHz
40.00kHz
0.01kHz
400.0kHz
0.1kHz
4.000MHz
0.001MHz
40.00MHz
0.01MHz
400.0MHz
0.1MHz
Minimale Impulsdauer: 25ns
30% ≤ Tastverhältnis ≤70%
Kapazität
Bereich
Auflösung
4.000nF
0.001nF
40.00nF
0.01nF
400.0nF
0.1nF
4.000μF
0.001μF
40.00μF
0.01μF
400.0μF
0.1μF
4.000mF
0.001mF
40.00mF
0.01mF
6.1.1. Elektrische Spezifikationen
Umsetzung:
Abtastrate:
Temperatur-Koeffizient:
NMRR Normal Mode Rejection Ratio:
CMRR Common Mode Rejection Ratio: >100dB von DC bis zu 60Hz bei DCV
6.1.2. Sicherheitsstandards
Dieses Instrument erfüllt:
Isolierung:
Verschmutzungsgrad:
Überspannungskategorie:
Maximale Höhe für Benutzung:
Genauigkeit
(0.4 ÷ 0.8V)
±(1.5%rdg + 5dgt)
Buzzer
<35Ω
Genauigkeit
±(0.1%rdg + 2dgt)
Nicht angegeben
Genauigkeit
Nicht angegeben
±(2.0%rdg + 8dgt)
±(5.0%rdg+20dgt)
TRMS
1,5 mal pro Sekunde
0.15×(Genauigkeit)/°C (<18°C und >28°C)
> 50dB bei DC Parametern und 50/60Hz
> 60dB von DC bis zu 60Hz bei ACV
EN 61010-1
Class 2, Doppelte Isolierung
2
CAT IV 600V, CAT III 1000V (V/Ω/μA)
2000m
DE - 20
Test
Leerlauf-
current
spannung
1.5mA
<3V
Leerlauf
about 1.3V
Empfindlichkeit
>1.5VACrms
<5VACrms
>2VACrms
<5VACrms
Überspannungsschutz
600Vrms
HT327
Überspannungs-
schutz
600Vrms
Überspannungs-
schutz
600Vrms
Überspannungs-
schutz
600Vrms
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