Siemens Simatic ET200iSP Betriebsanleitung Seite 95

Liefert ein Dunkelimpuls einen Fehler, wird derselbe Dunkelimpuls (d. h. dasselbe Bitmuster)
nach 50 ms einmal wiederholt. Besteht der Fehler weiterhin, wird die maximale Testzeit
automatisch auf 60 s verkürzt, eine Diagnosemeldung generiert und das fehlersichere
Ausgabemodul fährt mit dem nächsten Dunkelimpuls fort. Ist der Fehler gegangen, fährt das
fehlersichere Ausgabemodul sofort mit dem nächsten Dunkelimpuls fort.
Im ungünstigsten Fall können also pro Kanal innerhalb von 60 s bis zu 32 Dunkelimpulse
auftreten.
Folgende Rücklesezeiten sind für den Dunkeltest parametrierbar:
● 0,8 ms, 1 ms, 5 ms, 10 ms, 20 ms, 50 ms
Sie sollten die Rücklesezeit hinreichend groß einstellen, wenn der betroffene Kanal große
kapazitive Lasten schaltet. Ist die Rücklesezeit für eine angesteuerte kapazitive Last zu klein
eingestellt, wird der Ausgangskanal mit Diagnosemeldung "Kurzschluss" passiviert, weil die
Entladung der Kapazität nicht innerhalb des Ausschalttests erfolgt.
Testzyklus
Ein Bitmuster wird gleichzeitig auf die Kanäle geschaltet. Ein Bitmuster ist dann fertig, wenn
alle (ggf. unterschiedlich parametrierten) Kanäle den Schaltertest durchgeführt haben. Dann
wird 50 ms gewartet, und das nächste Bitmuster wird auf die Kanäle geschaltet, d. h. die Dauer
der Abarbeitung eines Bitmusters hängt vom langsamsten Kanal (bzw. der größten kapazitiven
Last) ab.
Der Parameter "Maximale Testzeit (s)" ist jedoch ein Modulparameter, d. h. der Testzyklus für
das gesamte fehlersichere Ausgabemodul wird innerhalb der parametrierten maximalen
Testzeit durchgeführt. Wenn der Bitmustertest nicht in der parametrierten Zeit (oder im
Fehlerfall in der verkürzten Testzeit) durchläuft, geht das Modul in den Fehler-Zustand über.
Die Passivierung des Ausgangskanals erfolgt zusätzlich zur Diagnosemeldung erst nach
wiederholtem Bitmusterfehler. Es handelt sich hier um einen erkannten Kanalfehler, und das
Modul verhält sich dementsprechend (entweder wird der Kanal oder das gesamte Modul
passiviert, abhängig von der Parametrierung).
Auswirkung der eingestellten Hell- und Dunkeltestzeiten auf die Reaktionszeit des Moduls
Bis ein Bitmuster aktiv ist (Schaltertest wird durchgeführt), werden keine neuen Prozesswerte
auf die Ausgänge geschaltet. Somit erhöht eine größere Helltestzeit oder Rücklesezeit für
Dunkeltest die Reaktionszeit des Moduls.
Durch die parametrierte Rücklesezeit können Kurzschlüsse (Querschlüsse) zu einem
Störsignal mit einer Frequenz > 1 / (2 x parametrierte Rücklesezeit) Hz unterdrückt werden
(50:50 Tastverhältnis).
Kurzschlüsse (Querschlüsse) zu einem Ausgang desselben Moduls werden erkannt.
Dezentrales Peripheriegerät ET 200iSP - Fehlersichere Module
Betriebsanleitung, 08/2016, A5E38986012-AA
WARNUNG
7.2 Digitales Elektronikmodul 4 F-DO Ex 17,4V/40mA
Digitale Elektronikmodule
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