X-Rite SP60 Bedienungsanleitung Seite 85

5.7.13 Reflexionsgraph
Reflexionsgraph
Alle Proben übertr
Überträgt alle im Gerät befindlichen Proben.
Probe löschen
Löscht die aktive Probe aus der Datenbank.
Projektproben lösch
Löscht alle Proben des aktiven Projekts.
Alle Proben löschen
Löscht alle im Gerät befindlichen Proben.
3. Benutzen Sie die Tabtasten $ @, um die gewünschte Option
zu markieren, und drücken Sie die Eingabetaste #.
T o o l s – P r o b e 9
P r o b e ü b e r t r a g e n
P r o j e k t p r o b e n ü b e r t r
A l l e P r o b e n ü b e r t r
P r o b e l ö s c h e n
P r o j e k t p r o b e l ö s c h
A l l e P r o b e n l ö s c h e n
4. Benutzen Sie die Tabtasten $ @, um Ja zu markieren, und
drücken Sie die Eingabetaste #, um das Tool auszuführen.
Das Gerät kann zur gleichen Zeit Reflexionsgraphen für
Standard und Probe anzeigen. Die Reflexionsdaten (Mess- und
Differenzwerte) werden in 10 nm Schritten dargestellt, von 400
bis 700 Nanometer. Die Standardwerte können mit oder ohne
Glanzkomponente angezeigt werden.
Im Modus Analyse und Vergleich kann direkt aus dem Fenster
Reflexionsgraph heraus gemessen werden.
Hinweis: Der Reflexionsgraph ist autoskalierend. Bei Änderung der
Glanzkomponente
erscheinen.
So betrachten Sie den Reflexionsgraphen:
1. Benutzen Sie die Tabtasten $ @, um den Reflexionsgraph zu
markieren.
P r o j 1 : P R O J E K T A
S t d 1 :
P r o b e : # 9 9 : 5 1
L*a*b*
D65/10
SPIN
. . .
. . . . . . .
kann die
S T A N D A R D A
∆L* +0,05
∆a* —0,03
L* 88,25
∆b* —0,14
a* —4,71
∆E*
b*+36,64
G E R Ä T E F U N K T I O N E N
Aktive Probe
Darstellung gestaucht/gestreckt
0,16
5-23