5.2.2
Bitmustertest
Bitmustertest fehlersicherer Ausgänge
Der Umrichter reagiert normalerweise sofort auf Signaländerungen seiner fehlersicheren
Eingänge. Im folgenden Fall ist das unerwünscht: Einige Steuerungsbaugruppen testen ihre
fehlersicheren Ausgänge mit "Bitmustertests" (Hell- / Dunkeltests), um Fehler durch Kurz-
oder Querschluss zu erkennen. Wenn Sie einen fehlersicheren Eingang des Umrichters mit
einem fehlersicheren Ausgang einer Steuerungsbaugruppe verschalten, reagiert der
Umrichter auf diese Testsignale.
Bild 5-3
Hinweis
Falls die Testpulse zu einem unerwünschten Auslösen der Safety Integrated Functions
führen, muss eine Filterung (p9651/p9851 SI STO/SBC/SS1 Entprellzeit) der Klemmen-
Eingänge parametriert werden.
Übersicht wichtiger Parameter (siehe SINAMICS S120/S150 Listenhandbuch)
● p9651 SI STO/SBC/SS1 Entprellzeit (Control Unit)
● p9851 SI STO/SBC/SS1 Entprellzeit (Motor Module)
Safety Integrated
Funktionshandbuch, (FHS), 01/2012, 6SL3097-4AR00-0AP3
5.2 Ansteuerung über Klemmen auf der Control Unit und dem Motor/Power Module
Reaktion des Umrichters auf einen Bitmustertest
Ansteuerung der Sicherheitsfunktionen
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