ABB REL650 Technisches Handbuch Seite 525

1MRK506304-UDE -
15.4.3
15.4.4
15.4.5
REL650
Technisches Handbuch
Eingangssignal und nicht über die lokale HMI in den Testmodus
versetzt wurde.
Beim Verlassen des TESTMODE werden alle Blockierungen aufgehoben, und das
IED setzt den normalen Betrieb fort. Wenn allerdings im TESTMODE ein
Leistungsabfall auftritt, der später wieder ausgeglichen wird, bleibt das IED im
Testmodus und dieselben Schutzfunktionen, die vor dem Leistungsabfall blockiert
oder freigegeben waren, bleiben blockiert oder frei. Der Testvorgang geschieht mit
real eingestellten Werten innerhalb des IED. Keine Einstellung wird verändert,
sodass keine Fehler möglich sind.
Das Erzwingen von binären Ausgangssignalen ist nur möglich, wenn sich das IED
im Testmodus befindet.
Funktionsblock
TESTMODE
INPUT ACTIVE
OUTPUT
SETTING
NOEVENT
=IEC09000219=1=de=Original.vsd
IEC09000219 V1 DE
Abb. 240: TESTMODE Funktionsblock
Signale
Tabelle 425: TESTMODE Eingangssignale
Name Typ
INPUT BOOLEAN
Tabelle 426: TESTMODE Ausgangssignale
Name Typ
ACTIVE BOOLEAN
OUTPUT BOOLEAN
SETTING BOOLEAN
NOEVENT BOOLEAN
Einstellungen
IED-Grundfunktionen
Standard Beschreibung
0 Setzt Gerät in Testmodus wenn aktiv
Beschreibung
Gerät in Testmodus wenn aktiv
Testeingang ist aktiv
Parameter Testmode ist Ein oder Aus
Ereignis blockiert während Testmodus
Abschnitt 15
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